Microscopio atomico d'esplorazione piano della forza
- La progettazione della testa di esame del cavalletto, la base di marmo, la fase dell'adsorbimento di vuoto, la dimensione del campione ed il peso sono basicamente illimitati
- A62.4510 + analizzatore indipendente giroscopico a circuito chiuso dello spostamento di pressione, che può esplorare con alta precisione in una vasta gamma
- Metodo d'alimentazione dell'ago intelligente con rilevazione automatica adi ceramica piezoelettrica controllata a motore per proteggere le sonde ed i campioni
- Posizionamento ottico automatico, nessuna necessità per regolare fuoco, osservazione in tempo reale e posizionare area d'esplorazione del campione della sonda
- Fornito di schermo chiuso del metallo, tavola ammortizzatrice pneumatica, forte abilità anti-interferenza
◆Il primo microscopio atomico commerciale della forza in Cina per realizzare esame mobile combinato della sonda e del campione;
◆Il primo in Cina per usare una tavola di esame piezoelettrica dello spostamento del circuito chiuso indipendente giroscopico per raggiungere esame di alta precisione su grande scala;
◆L'esame indipendente giroscopico, XYZ non si colpisce, molto adatto a rilevazione tridimensionale della topografia e del materiale;
◆Controllo elettrico del piano mobile del campione e della tavola di sollevamento, che può essere programmato con la posizione multipunto realizzare la rilevazione automatica veloce;
◆Progettazione della testa di esame del cavalletto, base di marmo, adsorbimento di vuoto e fase magnetica di adsorbimento;
◆Il motore controlla automaticamente il metodo d'alimentazione dell'ago intelligente della rilevazione automatica ceramica piezoelettrica per proteggere la sonda ed il campione;
◆Posizionamento ottico ausiliario del microscopio di alto ingrandimento, osservazione in tempo reale e posizionamento della sonda e dell'area d'esplorazione del campione;
◆La fase d'esplorazione piezoelettrica a circuito chiuso non richiede la correzione non lineare e l'accuratezza di caratterizzazione e di misura di nanometro è migliore di 99,5%.
-
|
A62.4510 |
A62.4511 |
Modo del lavoro |
Modo di contatto Modo di spillatura
[Facoltativo] Modo di attrito Modo di fase Modo magnetico Modo elettrostatico |
Modo di contatto Modo di spillatura
[Facoltativo] Modo di attrito Modo di fase Modo magnetico Modo elettrostatico |
Curva corrente di spettro |
Curva di RMS-Z F-Z Force Curve |
Curva di RMS-Z F-Z Force Curve |
Modalità di scansione DI X-Y |
Esame determinato sonda, Analizzatore piezo-elettrico della metropolitana |
Esame determinato campione, fase piezoelettrica di esame dello spostamento del ciclo chiuso |
Gamma DI X-Y di ricerca |
70×70um |
Ciclo chiuso 100×100um |
Risoluzione DI X-Y di ricerca |
0.2nm |
Ciclo chiuso 0.5nm |
Modalità di scansione di Z |
|
Esame determinato sonda |
Gamma di ricerca di Z |
5um |
5um |
Risoluzione di ricerca di Z |
0.05nm |
0.05nm |
Velocità di ricerca |
0.6Hz~30Hz |
0.6Hz~30Hz |
Angolo di ricerca |
0~360° |
0~360° |
Peso del campione |
≤15Kg |
≤0.5Kg |
Dimensione della fase |
Dia.100mm
[Facoltativo] Dia.200mm Dia.300mm |
Dia.100mm
[Facoltativo] Dia.200mm Dia.300mm |
Muoversi DI X-Y della fase |
100x100mm, risoluzione 1um
[Facoltativo] 200x200mm 300x300mm |
100x100mm, risoluzione 1um
[Facoltativo] 200x200mm 300x300mm |
Muoversi della fase Z |
15mm, risoluzione 10nm [Facoltativo] 20mm 25mm |
15mm, risoluzione 10nm [Facoltativo] 20mm 25mm |
Progettazione ammortizzatrice |
Sospensione della primavera
[Facoltativo] Ammortizzatore attivo |
Sospensione della primavera
[Facoltativo] Ammortizzatore attivo |
Sistema ottico |
5x obiettivo 5.0M Digital Camera
[Facoltativo] 10x obiettivo 20x obiettivo |
5x obiettivo 5.0M Digital Camera
[Facoltativo] 10x obiettivo 20x obiettivo |
Uscita |
USB2.0/3.0 |
USB2.0/3.0 |
Software |
Vittoria XP/7/8/10 |
Vittoria XP/7/8/10 |
Parte principale |
Testa di ricerca del cavalletto, base di marmo |
Testa di ricerca del cavalletto, base di marmo |
-
Microscopio |
Microscopio ottico |
Microscopio elettronico |
Microscopio d'esplorazione della sonda |
Max Resolution (um) |
0,18 |
0,00011 |
0,00008 |
Osservazione |
1500x d'immersione in olio |
Atomi di carbonio del diamante di rappresentazione |
Atomi di carbonio grafitici di ordine alto di rappresentazione |
|
|
|
-
Interazione del Sonda-campione |
Segnale di misura |
Informazioni |
Forza |
Forza elettrostatica |
Forma |
Corrente del tunnel |
Corrente |
Forma, conducibilità |
Forza magnetica |
Fase |
Struttura magnetica |
Forza elettrostatica |
Fase |
distribuzione della carica |
-
|
Risoluzione |
Condizione di lavoro |
Temperation di lavoro |
Damge da provare |
Profondità di ispezione |
SPM |
Atom Level 0.1nm |
Normale, liquido, vuoto |
Stanza o Temperation basso |
Nessuno |
1~2 Atom Level |
TEM |
Punto 0.3~0.5nm Grata 0.1~0.2nm |
Alto vuoto |
Stanza Temperation |
Piccolo |
Solitamente <100nm>
|
SEM |
6-10nm |
Alto vuoto |
Stanza Temperation |
Piccolo |
10mm @10x 1um @10000x |
FIM |
Atom Level 0.1nm |
Alto vuoto eccellente |
30~80K |
Damge |
Atom Thickness |
-
-
-