A63.7001 Microscopio elettronico a scansione a filamento di tungsteno, SE+BSE, 150000x | |
Risoluzione | 6 nm @ 30 KV (SE) |
Ingrandimento | 150000x |
Pistola elettronica | Cartuccia di filamento di tungsteno precentrata |
Voltaggio | Tensione di accelerazione 1~15KV, regolabile in continuo, regolare il passo 1KV |
Rivelatore | Standard: SE, BSE, CCD |
Opzionale: EDS | |
Sistema sottovuoto | Sistema ad alto vuoto con controllo automatico completo, tempo di aspirapolvere <2 minuti |
Stadio del campione | Tavolino automatico XY standard, escursione 30x30 mm, |
Stage a 5 assi opzionale | |
Campione massimo | Ф50 x H35mm |
Distanza di lavoro | 5-35 mm |
Condensatore | Condensatore integrato Nessuna necessità di regolazione manuale dell'apertura (LaB6 opzionale) |
Sistema di immagini | SE, BSE, BSE+SE (misto) Modalità di scansione: 1. Modalità video: 512 x 512 pixel, non è necessaria la scansione di finestre piccole 2. Modalità rapida: tempo di scansione <3s, 512x512 pixel, 3. Modalità lenta: tempo di scansione <40s, 2048x2048 pixel, Formato file immagine: BMP, TIFF, JPG, PNG |
Navigazione | Navigazione ottica CCD (non navigazione elettrica dell'immagine) |
Funzione automatica | Messa a fuoco automatica a un tasto, regolazione automatica della luminosità e del contrasto |
Software per il computer | PC Work Station Win 10 System, con software di analisi delle immagini professionale per controllare completamente il funzionamento del microscopio SEM, specifiche del computer non meno di Inter I5 3,2 GHz, memoria 4G, monitor LCD IPS da 24", disco rigido da 500 G, mouse, tastiera |
Condizione di lavoro | 220V/50Hz 1KW, nessun tavolo ammortizzante necessario |
Dimensione |
Corpo del microscopio 283*553*505mm
Pompa meccanica 340*160*140 mm |
accessori opzionali | |
A50.7002 | Spettrometro a raggi X a dispersione di energia EDS |
A50.7011 | Verniciatore a polverizzazione ionica |