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Controled Mouse Scanning Electron Microscope Sem 1x~600000x Magnification A63.7080

Microscopio elettronico a scansione controllata con mouse Sem 1x~600000x ingrandimento A63.7080

Prodotti - Microscopio di esame
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    microscopio elettronico a scansione controllato del topo sem

    ,

    microscopio elettronico a scansione di ingrandimento 800000x sem

  • Risoluzione
    1,5 nm@15 KV(SE); 3nm@20KV(BSE)
  • Ingrandimento
    1x~600000x
  • Cannone elettronico
    Pistola elettronica ad emissione Schottky
  • Voltaggio di accelerazione
    0~30KV
  • Diametro massimo del campione
    175 mm
  • Fase del campione
    Palco motorizzato eucentrico a cinque assi
  • Luogo di origine
    La Cina
  • Marca
    OPTO-EDU
  • Certificazione
    CE, Rohs
  • Numero di modello
    A63.7080
  • Documento
    Brochure del prodotto PDF
  • Quantità di ordine minimo
    1 pc
  • Prezzo
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Imballaggi particolari
    Imballaggio del cartone, per il trasporto dell'esportazione
  • Tempi di consegna
    5 ~ 20 giorni
  • Termini di pagamento
    T/T, West Union, PayPal
  • Capacità di alimentazione
    un mese di 5000 pc

Microscopio elettronico a scansione controllata con mouse Sem 1x~600000x ingrandimento A63.7080

  • Controled Mouse Scanning Electron Microscope Sem 1x~600000x Magnification A63.7080
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A63.7080, A63.7081 Software Funzione principale
Immissione in servizio integrata ad alta tensione Accensione / spegnimento automatico del filamento Regolamento dei turni potenziali
Regolazione della luminosità Regolazione elettrica a centrale Luminosità automatica
Regolazione del contrasto Regolazione dell'obiettivo Focalizzazione automatica
Regolazione dell'ingrandimento Degassaggio obiettivo Eliminazione automatica dell'astigmatismo
Modalità di scansione dell'area selezionata Regolazione elettrica della rotazione Gestione dei parametri del microscopio
Modalità di scansione a punti Regolazione dello spostamento del fascio di elettroni Visualizzazione in tempo reale della dimensione del campo di scansione
Modalità di scansione delle linee Regolazione dell'inclinazione del fascio di elettroni Regolazione dell'obiettivo della pistola
Scansione superficiale Regolazione della velocità di scansione Input multicanale
Monitoraggio della potenza ad alta tensione Centratura oscillante Misurazione del righello


Microscopio elettronico a scansione controllata con mouse Sem 1x~600000x ingrandimento A63.7080 13
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SEM A63.7069
A63.7069-L
A63.7069-LV		 A63.7080
A63.7080-L		 A63.7081
Risoluzione 3nm@30KV ((SE)
6nm@30KV ((BSE)		 1.5nm@30KV(SE)
3nm@30KV ((BSE)		 1.0nm@30KV(SE)
3.0nm@1KV(SE)
2.5nm@30KV ((BSE)
Ingrandimento 1x~450000x,Maggioramento vero negativo 1x~600000x, ingrandimento vero negativo 1x~3000000x Maggiorazione reale negativa
Pistola elettronica Cartuccia di filamenti di tungsteno precentrata Schottky Field Emission Gun (Pistola per le emissioni di campo Schottky) Schottky Field Emission Gun (Pistola per le emissioni di campo Schottky)
Voltaggio Tensione di accelerazione 0.2️30 kV, regolabile in continuo, regolare passo 100V@0-10Kv, 1KV@10-30Kv
Visualizzazione rapida Funzione di visualizzazione rapida delle immagini con una chiave N/A N/A
Sistema di lenti Lenti con lenti coniche elettromagnetiche a tre livelli Lenti con lenti coniche elettromagnetiche a più livelli
Apertura 3 Aperture dell'obiettivo in molibdeno, regolabili al di fuori del sistema di vuoto, non è necessario smontare l'obiettivo per cambiare l'apertura
Sistema a vuoto 1 Pompa molecolare turbo
1 Pompa meccanica
Vaso della camera di campionamento>2,6E-3Pa
Vaccum della camera della pistola elettronica> 2,6E-3Pa
Controllo del vuoto completamente automatico
Funzione di blocco sotto vuoto

Modello facoltativo: A63.7069-LV
1 Pompa molecolare turbo
2Pompe meccaniche
Vaso della camera di campionamento>2,6E-3Pa
Vaccum della camera della pistola elettronica> 2,6E-3Pa
Controllo del vuoto completamente automatico
Funzione di blocco sotto vuoto
Basso vuotoIntervallo 10 ~ 270 Pa per il cambio rapido in 90 secondi per la BSE (LV)		 1 set di pompe agli ioni
1 Pompa molecolare turbo
1 Pompa meccanica
Vaso della camera di campionamento> 6E-4Pa
Vaccum della stanza della pistola elettronica> 2E-7 Pa
Controllo del vuoto completamente automatico
Funzione di blocco sotto vuoto		 1 Pompa agli ioni sputter
1 Pompa per ioni Getter
1 Pompa molecolare turbo
1 Pompa meccanica
Vaso della camera di campionamento> 6E-4Pa
Vaccum della stanza della pistola elettronica> 2E-7 Pa
Controllo del vuoto completamente automatico
Funzione di blocco sotto vuoto
Detettore S.E.: Detettore di elettroni secondari ad alto vuoto (con protezione del rilevatore) S.E.: Detettore di elettroni secondari ad alto vuoto (con protezione del rilevatore) S.E.: Detettore di elettroni secondari ad alto vuoto (con protezione del rilevatore)
BSE: Semiconduttore 4 Segmentazione
Detettore di dispersione posteriore		 Opzionale Opzionale
Modello facoltativo: A63.7069-LV
BSE (LV): Semiconduttore 4 Segmentazione
Detettore di dispersione posteriore		 　 　
CCD:Telecamera CCD a infrarossi CCD:Telecamera CCD a infrarossi CCD:Telecamera CCD a infrarossi
Estendere la porta 2 Estendere le porte sul campione
EDS, BSD, WDS ecc.		 4 Estendere le porte sul campione per
BSE, EDS, BSD, WDS ecc.		 4 Estendere le porte sul campione per
BSE, EDS, BSD, WDS ecc.
Fase del campione 5 Assi Fase 4Auto+ 1ManualeControllo
Distanza di percorrenza:
X = 70 mm, Y = 50 mm, Z = 45 mm,
R=360°, T=-5°~+90° (manuale)
Toccare la funzione di allarme e arresto

Modello facoltativo:
A63.7069-L5 assi Auto Large Stage		 5 AssiAuto MedioFase
Distanza di percorrenza:
X = 80 mm, Y = 50 mm, Z = 30 mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Toccare la funzione di allarme e arresto

Modello facoltativo:
A63.7080-L5 AssiAuto GrandiFase		 5 AssiAuto GrandiFase
Distanza di percorrenza:
X = 150 mm, Y = 150 mm, Z = 60 mm,
R=360°, T=-5°~+70°
Toccare la funzione di allarme e arresto
Esemplare massimo Dia. 175 mm, altezza 35 mm Dia. 175 mm, altezza 20 mm Diametro 340 mm, altezza 50 mm
Sistema di immagine Real Still Image Max Risoluzione 4096x4096 pixel,
Formato del file immagine: BMP ((Default), GIF, JPG, PNG, TIF		 Verità Immagine Fermata Risoluzione massima 16384x16384 pixel,
Formato del file immagine: TIF ((Default), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Auto Record Digital. Video AVI		 Verità Immagine Fermata Risoluzione massima 16384x16384 pixel,
Formato del file immagine: TIF ((Default), BMP, GIF, JPG, PNG
Video: Auto Record Digital. Video AVI
Computer e software PC Work Station Win 10 System, con software di analisi delle immagini professionale per controllare completamente l'intero funzionamento del microscopio SEM, specifiche del computer non inferiori a Inter I5 3.2GHz, memoria 4G,Monitor LCD IPS da 24 pollici500G Disco rigido, mouse, tastiera
Display fotografico Il livello dell'immagine è ricco e meticoloso, mostrando ingrandimento in tempo reale, regolare, tensione, curva grigia
Dimensione
& Peso		 Corpo del microscopio 800x800x1850 mm
Tavolo di lavoro 1340x850x740mm
Peso totale 400 kg		 Corpo del microscopio 800x800x1480 mm
Tavolo di lavoro 1340x850x740mm
Peso totale 450 kg		 Corpo del microscopio 1000x1000x1730 mm
Tavolo di lavoro 1330x850x740mm
Peso totale 550 kg
Accessori opzionali
Accessori opzionali A50.7002Spectrometro a raggi X dispersivo di energia EDS
A50.7011Rivestimento per lo spruzzo ionico		 A50.7001Detettore di elettroni di scattering di ritorno BSE
A50.7002Spectrometro a raggi X dispersivo di energia EDS
A50.7011Rivestimento per lo spruzzo ionico
A50.7030Pannello di controllo motorizzato		 A50.7001Detettore di elettroni di scattering di ritorno BSE
A50.7002Spectrometro a raggi X dispersivo di energia EDS
A50.7011Rivestimento per lo spruzzo ionico
A50.7030Pannello di controllo motorizzato

Microscopio elettronico a scansione controllata con mouse Sem 1x~600000x ingrandimento A63.7080 15

Microscopio elettronico a scansione controllata con mouse Sem 1x~600000x ingrandimento A63.7080 16
A50.7001 Detettore di BSE "Sistema di controllo" di un sistema di controllo basato su un sistema di controllo basato su un sistema di controllo basato su un sistema di controllo basato su un sistema di controllo basato su un sistema di controllo basato su un sistema di controllo basato su un sistema di controllo basato su un sistema di controllo basato su un sistema di controllo.
Disponibile negli ingredienti A+B, Morfologia Info A-B;
Disponibilità di campioni di osservazione senza sputtering oro;
Disponibile in Impurità Osservata e Distribuzione direttamente dalla Mappa di Grayscale.
A50.7002 EDS (detettore a raggi X) Fenestra di nitruro di silicio (Si3N4) per ottimizzare la trasmissione dei raggi X a bassa energia per l'analisi degli elementi leggeri;
Eccellente risoluzione e la loro elettronica avanzata a basso rumore forniscono prestazioni di throughput eccezionali;
La piccola impronta offre flessibilità per garantire la geometria ideale e le condizioni di raccolta di AATA;
I rilevatori contengono un chip da 30 mm2.
A50.7003 EBSD (diffrazione retroscatterata del fascio di elettroni) L'utente potrebbe analizzare l'orientamento cristallino, la fase cristallina e la microtessura dei materiali e le prestazioni dei materiali correlati, ecc.
ottimizzazione automatica delle impostazioni della fotocamera EBSD
durante la raccolta dei dati, effettuare analisi interattive in tempo reale per ottenere il massimo di informazioni
tutti i dati sono stati contrassegnati con un'etichetta temporale, che può essere visualizzata in qualsiasi momento
alta risoluzione 1392 x 1040 x 12
Velocità di scansione e indice: 198 punti/sec, con Ni come standard, in condizioni di 2~5nA, può garantire il tasso di indice ≥99%;
funziona bene in condizioni di bassa corrente di fascio e bassa tensione di 5kV a 100pA
accuratezza di misura dell'orientamento: superiore a 0,1 gradi
Utilizzando il sistema di indici triplex: non è necessario basarsi sulla definizione di una singola banda, facile indicizzazione della scarsa qualità del modello
banca dati dedicata: banca dati speciale EBSD ottenuta mediante diffrazione elettronica: >400 struttura di fase
Capacità di indicizzazione: può indicizzare automaticamente tutti i materiali cristallini di 7 sistemi cristallini.
Le opzioni avanzate includono il calcolo della rigidità elastica (Elastic Stiffness), fattore Taylor (Taylor), fattore Schmidt (Schmidt) e così via.
A50.7010 Macchina per rivestimento Conchiglia protettiva in vetro: ¥250 mm; 340 mm di altezza;
Camera di lavorazione del vetro:
¥88mm; 140mm Alto, ¥88mm; 57mm Alto;
Dimensione del palco del campione: 40 mm (massimo);
Sistema a vuoto: pompa molecolare e pompa meccanica;
Detezione del vuoto: Pirani Gage;
a. "tecnologia" per l'elaborazione, la produzione e la distribuzione di dati;
Protezione da vuoto:20 Pa con valvola di gonfiamento a microscala;
Movimento del campione: rotazione del piano, inclinazione di precisione.
A50.7011 Rivestimento per lo spruzzo ionico Camera di lavorazione del vetro: 100 mm; 130 mm di altezza;
Dimensione del palco per il campione: ¥40 mm (contiene 6 tazze per il campione);
Dimensioni: ¥58mm*0.12mm (spessore);
Detezione del vuoto: Pirani Gage;
Protezione da vuoto:20 Pa con valvola di gonfiamento a microscala;
Gas medio: argon o aria con ingresso d'aria speciale e regolazione del gas su scala microscopica.
A50.7012 Argon Ion Sputtering Coater Il campione è stato rivestito con carbonio e oro sotto vuoto elevato.
Tabella di campionamento rotabile, rivestimento uniforme, dimensione delle particelle circa 3-5 nm;
Nessuna selezione del materiale bersaglio, nessun danno ai campioni;
Le funzioni della pulizia degli ioni e dell'assottigliamento degli ioni possono essere realizzate.
A50.7013 Asciugatrice di punti critici Diametro interno: 82 mm, lunghezza interna: 82 mm;
Intervallo di pressione: 0 - 2000 psi;
Intervallo di temperatura: 0°-50° C (32°-122° F)
A50.7014 Litografia a fascio elettronico Sulla base del microscopio elettronico di scansione, è stato sviluppato un nuovo sistema di nanoesposizione;
La modificazione ha mantenuto tutte le funzioni di sem per la realizzazione di immagini a larghezza di linea su scala nanometrica;
Il sistema Ebl modificato è ampiamente applicato nei dispositivi microelettronici, dispositivi optoelettronici, dispositivi quantici, ricerca e sviluppo di sistemi microelettronici.

Microscopio elettronico a scansione controllata con mouse Sem 1x~600000x ingrandimento A63.7080 17
A63.7080, A63.7081 Costumi standard
1 Filamento di emissione di campo Installato al microscopio 1 Pc
2 Coppa campione Diametro 13 mm 5 pezzi
3 Coppa campione Dia.32 mm 5 pezzi
4 Nastro conduttivo a doppio lato a carbonio 6 mm 1 Pacchetto
5 Grassi a vuoto 　 10 pz.
6 Tessuto senza peli 　 1 tubo
7 Paste lucidanti 　 1 Pc
8 Casella campione 　 2 sacchetti
9 Swab di cotone 　 1 Pc
10 Filtro di nebbia di olio 　 1 Pc
A63.7080, A63.7081 Strumenti e parti standard
1 Spanner ad esagono interno 1.5 mm~10 mm 1 set
2 Pincezze Lunghezza 100-120 mm 1 Pc
3 Serratura a fessura 2*50 mm, 2*125 mm 2 pezzi
4 Cacciavite croce 2*125 mm 1 Pc
5 Tubo di ventilazione pulito Diametro di 10/6,5 mm (Diametro esterno/Diametro interno) 5 metri
6 Valvola di riduzione della pressione Pressione di uscita 0-0,6 MPa 1 Pc
7 Fornitore interno di alimentazione per la cottura 0-3A DC 2 pezzi
8 Fornitore di alimentazione UPS 10 kVA 2 pezzi

Microscopio elettronico a scansione controllata con mouse Sem 1x~600000x ingrandimento A63.7080 18
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