Microscopio atomico della forza del livello di ricerca

• Livello di ricerca, regolatore combinato & progettazione della parte principale, con il modo di contatto, modo di spillatura, obiettivo 10x.
• Laser di precisione e dispositivo di posizionamento della sonda, è semplice e conveniente sostituire la sonda e regolare il punto
• Gli analizzatori ceramici piezoelettrici di alta precisione e su grande scala possono essere selezionati secondo accuratezza differente ed i requisiti d'esplorazione della gamma
• Posizionamento ottico dell'obiettivo di 10X APO, nessuna necessità di mettere a fuoco, osservazione e posizionamento in tempo reale dell'area d'esplorazione del campione della sonda;
• Il metodo antiurto della sospensione della molla è semplice e pratico ed ha forte abilità anti-interferenza.

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• ◆La testa di rilevazione del laser e la fase di esame del campione sono integrate, la struttura è molto stabile e l'anti-interferenza è forte

• ◆Il dispositivo di posizionamento della sonda di precisione, adeguamento di allineamento del punto di laser è molto facile

  ◆Il campione dell'azionamento di unico asse si avvicina automaticamente verticalmente alla sonda, di modo che l'a punta d'ago è perpendicolare alla ricerca del campione

  ◆Il metodo d'alimentazione dell'ago intelligente adi rilevazione automatica ceramica piezoelettrica pressurizzata controllata a motore protegge la sonda ed il campione

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  ◆Gli analizzatori ceramici piezoelettrici di alta precisione e vasti possono essere selezionati liberamente

   

  ◆posizionamento ottico automatico dell'obiettivo di Alto-ingrandimento, nessuna necessità per mettere a fuoco, osservazione e posizionamento in tempo reale dell'area d'esplorazione del campione della sonda

• ◆Effetto antiurto semplice e pratico, buon antiurto di metodo della sospensione della primavera,

  ◆Il metallo ha protetto la scatola insonorizzata, la temperatura di alta precisione incorporata ed il sensore di umidità, monitoraggio in tempo reale del luogo di lavoro

• ◆Redattore non lineare integrato dell'utente di correzione dell'analizzatore, caratterizzazione di nanometro ed accuratezza di misura meglio di 98%

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• Specificazione	A62.4500	A622.4501	A62.4503	A62.4505
  Modo del lavoro	Modo di spillatura [Facoltativo] Modo di contatto Modo di attrito Modo di fase Modo magnetico Modo elettrostatico	Modo di contatto Modo di spillatura [Facoltativo] Modo di attrito Modo di fase Modo magnetico Modo elettrostatico	Modo di contatto Modo di spillatura [Facoltativo] Modo di attrito Modo di fase Modo magnetico Modo elettrostatico	Modo di contatto Modo di spillatura [Facoltativo] Modo di attrito Modo di fase Modo magnetico Modo elettrostatico
  Curva corrente di spettro	Curva di RMS-Z [Facoltativo] F-Z Force Curve	Curva di RMS-Z F-Z Force Curve	Curva di RMS-Z F-Z Force Curve	Curva di RMS-Z F-Z Force Curve
  Gamma DI X-Y di ricerca	20×20um	20×20um	50×50um	50×50um
  Risoluzione DI X-Y di ricerca	0.2nm	0.2nm	0.2nm	0.2nm
  Gamma di ricerca di Z	2.5um	2.5um	5um	5um
  Risoluzione di ricerca di Y	0.05nm	0.05nm	0.05nm	0.05nm
  Velocità di ricerca	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
  Angolo di ricerca	0~360°	0~360°	0~360°	0~360°
  Dimensione del campione	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm
  Muoversi DI X-Y della fase	15×15mm	15×15mm	25×25um	25×25um
  Progettazione ammortizzatrice	Sospensione della primavera	Sospensione della primavera Metallo che protegge scatola	Sospensione della primavera Metallo che protegge scatola	-
  Syestem ottico	obiettivo 4x Risoluzione 2.5um	obiettivo 4x Risoluzione 2.5um	obiettivo 10x Risoluzione 1um	Oculare 10x Piano LWD APO 5x10x20x50x di infinito 5.0M Digital Camera 10" monitor LCD, con la misurazione Illuminazione del LED Kohler Messa a fuoco grezza & fine coassiale
  Uscita	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Software	Vittoria XP/7/8/10	Vittoria XP/7/8/10	Vittoria XP/7/8/10	Vittoria XP/7/8/10

• Microscopio	Microscopio ottico	Microscopio elettronico	Microscopio d'esplorazione della sonda
  Max Resolution (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Osservazione	1500x d'immersione in olio	Atomi di carbonio del diamante di rappresentazione	Atomi di carbonio grafitici di ordine alto di rappresentazione

• Interazione del Sonda-campione	Segnale di misura	Informazioni
  Forza	Forza elettrostatica	Forma
  Corrente del tunnel	Corrente	Forma, conducibilità
  Forza magnetica	Fase	Struttura magnetica
  Forza elettrostatica	Fase	distribuzione della carica

• 	Risoluzione	Condizione di lavoro	Temperation di lavoro	Damge da provare	Profondità di ispezione
  SPM	Atom Level 0.1nm	Normale, liquido, vuoto	Stanza o Temperation basso	Nessuno	1~2 Atom Level
  TEM	Punto 0.3~0.5nm Grata 0.1~0.2nm	Alto vuoto	Stanza Temperation	Piccolo	Solitamente <100nm>
  SEM	6-10nm	Alto vuoto	Stanza Temperation	Piccolo	10mm @10x 1um @10000x
  FIM	Atom Level 0.1nm	Alto vuoto eccellente	30~80K	Damge	Atom Thickness

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