Microscopio a scansione con sonda a forza atomica

• Il design della testa di scansione a portale, la base in marmo, la fase di assorbimento del vuoto, la dimensione e il peso del campione sono praticamente illimitati
• Metodo di alimentazione intelligente dell'ago con rilevamento automatico di ceramiche piezoelettriche controllate da motore per proteggere sonde e campioni
• Posizionamento ottico automatico, nessuna necessità di regolare la messa a fuoco, l'osservazione in tempo reale e l'area di scansione del campione della sonda di posizionamento
• Dotato di scudo metallico chiuso, tavolo ammortizzante pneumatico, forte capacità anti-interferenza;
• L'editor utente di correzione non lineare dello scanner integrato, la caratterizzazione nanometrica e l'accuratezza della misurazione sono migliori del 98%

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• ◆ Il primo microscopio commerciale a forza atomica in Cina che mantiene fermo il campione e la sonda si muove e scansiona;

  ◆ La dimensione e il peso del campione sono pressoché illimitati, particolarmente adatti per la rilevazione di campioni molto grandi;

• ◆ Lo stadio di campionamento è altamente espandibile, il che è molto conveniente per la combinazione multistrumento per realizzare il rilevamento in situ;

  ◆ Controllo elettrico della tavola mobile del campione e della tavola di sollevamento, che può essere programmata con posizione multipunto per realizzare un rilevamento automatico veloce;

  ◆ Design della testa di scansione a portale, base in marmo, fase di adsorbimento sottovuoto e fase di adsorbimento magnetico;

• ◆ Il motore controlla automaticamente il metodo di alimentazione intelligente dell'ago del rilevamento automatico della ceramica piezoelettrica per proteggere la sonda e il campione;

• ◆ Posizionamento del microscopio ottico ausiliario ad alto ingrandimento, osservazione in tempo reale e posizionamento della sonda e dell'area di scansione del campione;

• ◆ Editor utente integrato per la correzione non lineare dello scanner, caratterizzazione nanometrica e precisione di misura superiore al 98%.

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• 	A62.4510	A62.4511
  Modalità Lavoro	Modalità di contatto Modalità tocco [Opzionale] Modalità di attrito Modalità Fase Modalità magnetica Modalità elettrostatica	Modalità di contatto Modalità tocco [Opzionale] Modalità di attrito Modalità Fase Modalità magnetica Modalità elettrostatica
  Curva dello spettro corrente	Curva RMS-Z Curva di forza FZ	Curva RMS-Z Curva di forza FZ
  Modalità di scansione XY	Scansione guidata da sonda, Scanner per tubi piezoelettrici	Scansione guidata dal campione, fase di scansione a spostamento piezoelettrico a circuito chiuso
  Intervallo di scansione XY	70×70um	Circuito chiuso 100×100 um
  Risoluzione scansione XY	0,2 nm	Anello chiuso 0,5 nm
  Modalità scansione Z		Scansione guidata dalla sonda
  Intervallo di scansione Z	5um	5um
  Risoluzione scansione Z	0,05 nm	0,05 nm
  Velocità di scansione	0,6 Hz ~ 30 Hz	0,6 Hz ~ 30 Hz
  Angolo di scansione	0~360°	0~360°
  Campione di peso	≤15Kg	≤0,5 kg
  Dimensioni del palcoscenico	Diam.100mm [Opzionale] Diam.200mm Diam.300mm	Diam.100mm [Opzionale] Diam.200mm Diam.300mm
  Fase XY in movimento	100x100mm, Risoluzione 1um [Opzionale] 200x200mm 300x300mm	100x100mm, Risoluzione 1um [Opzionale] 200x200mm 300x300mm
  Fase Z in movimento	15 mm, risoluzione 10 nm [Opzionale] 20 mm 25 mm	15 mm, risoluzione 10 nm [Opzionale] 20 mm 25 mm
  Design ammortizzante	Sospensione a molla [Opzionale] Ammortizzatore attivo	Sospensione a molla [Opzionale] Ammortizzatore attivo
  Sistema ottico	Obiettivo 5x Fotocamera digitale da 5,0 M [Opzionale] Obiettivo 10x Obiettivo 20x	Obiettivo 5x Fotocamera digitale da 5,0 M [Opzionale] Obiettivo 10x Obiettivo 20x
  Produzione	USB 2.0/3.0	USB 2.0/3.0
  Software	Vinci XP/7/8/10	Vinci XP/7/8/10
  Corpo principale	Testa di scansione a portale, base in marmo	Testa di scansione a portale, base in marmo

• Microscopio	microscopio ottico	Microscopio elettronico	Microscopio con sonda a scansione
  Risoluzione massima (um)	0.18	0.00011	0.00008
  Nota	Immersione in olio 1500x	Imaging degli atomi di carbonio del diamante	Imaging di atomi di carbonio grafitico di ordine elevato

• Interazione sonda-campione	Misurare il segnale	Informazione
  Forza	Forza elettrostatica	Forma
  Corrente del tunnel	Attuale	Forma, conducibilità
  Forza magnetica	Fase	Struttura magnetica
  Forza elettrostatica	Fase	distribuzione della carica

• 	Risoluzione	Condizioni di lavoro	Temperamento di lavoro	Danno al Campione	Profondità di ispezione
  SPM	Livello dell'atomo 0,1 nm	Normale, Liquido, Sottovuoto	Ambiente o Bassa Temperatura	Nessuno	1~2 Livello di atomo
  TEM	Punto 0,3~0,5 nm Reticolo 0,1~0,2 nm	Alto vuoto	Temperatura della stanza	Piccolo	Di solito <100 nm
  SEM	6-10 nm	Alto vuoto	Temperatura della stanza	Piccolo	10 mm @ 10x 1um @10000x
  FIM	Livello dell'atomo 0,1 nm	Super alto vuoto	30~80K	Danno	Spessore dell'atomo

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