OPTO-EDU A63.7230 Microscopio elettronico a trasmissione di scansione STEM 50KV 800000x
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Modo di rappresentazioneBF/DF (campo luminoso/campo scuro)
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Voltaggio di atterraggio in modalità STEM50KV
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Tipo di rilevatoreDetettore diretto a semiconduttore
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Cannone elettronicoEmissioni di campo termico di tipo Schottky
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Corrente del fascio elettronicoDa 50pA a 100nA
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Fase di campionamentoX=±4 mm, Y=±4 mm, precisione di posizionamento 1 mm
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Luogo di origineCina
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MarcaCNOEC, OPTO-EDU
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CertificazioneCE, Rohs
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Numero di modelloA63.7230
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Documento
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Quantità di ordine minimo1 pc
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PrezzoFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
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Imballaggi particolariImballaggio del cartone, per il trasporto dell'esportazione
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Tempi di consegnaDa 5 a 20 giorni
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Termini di pagamentoT/T, unione ad ovest, Paypal
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Capacità di alimentazioneun mese di 5000 pc
OPTO-EDU A63.7230 Microscopio elettronico a trasmissione di scansione STEM 50KV 800000x
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Sistema automatico di analisi rapida delle micro-particelle A63.7230 è un microscopio elettronico a trasmissione di scansione (STEM) veloce, intelligente e completamente automatizzato con diritti di proprietà intellettuale indipendenti a 50 KV.Risponde alle esigenze di applicazione in settori quali l'osservazione della morfologia del virus, test di sicurezza delle banche di cellule di vaccini, ricerca e produzione di vaccini, ricerca clinica patologica sui tessuti, e ricerca biologica sull'omics di connessione neurale del cervello. |
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A63.7230 Tecnologia di base |
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️Sistema ottico elettronico ad alta risoluzione ad alta luminosità Imaging ad altissima velocità di 100 M/s a 50 KV. Il sistema ha capacità di analisi su scala nanometrica a livello video (25 fps@2k*2k),consentire l'acquisizione di informazioni completamente automatizzata senza omissioni mantenendo un'elevata risoluzione. ️Detettore elettronico diretto ad alta sensibilità Tutti i rilevatori di A63.7230 utilizzano rilevatori elettronici diretti progettati in modo indipendente, che convertono gli elettroni direttamente in segnali elettrici,ottenendo un'efficienza di rilevamento superiore all'80% e un rapporto segnale/rumore (SNR) superiore. ️Cambiamento rapido tra grande campo e immagini ad alta risoluzione L'innovativa progettazione elettronica ottica consente di operare in modo indipendente l'imaging a grande campo e l'imaging ad alta risoluzione, consentendo una rapida commutazione, l'identificazione e il posizionamento precisi delle particelle,e rapido di immagini ad alta risoluzione. ️Piattaforma di movimento meccanico ad alta velocità e alta stabilità Usa una piattaforma di movimento senza vibrazioni, X=±4mm, Y=±4mm, precisione di posizionamento 1um. |
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| A63.7230 Microscopio elettronico a scansione di trasmissione (STEM) | |
| Risoluzione | 1.0nm@50kV |
| (1nA corrente di fascio, in condizioni ottimali) | |
| Modalità di immagini | BF/DF (campo luminoso/campo scuro) |
| Voltaggio di atterraggio in modalità STEM | 50 KV |
| Tipo di rilevatore | Detettore diretto a semiconduttore |
| Ingrandimento | 1X-500X (imaging ottico a bassa ingrandimento) |
| 500X - 800.000X (immagini STEM) | |
| Pistola elettronica | Emissioni di campo termico di tipo Schottky |
| Corrente del fascio elettronico | Da 50pA a 100nA |
| Fase di campionamento | X=±4 mm, Y=±4 mm, precisione di posizionamento 1 mm |
| Flusso di immagini | Può completare l'imaging di un'area di 1x1mm2 a 4nm pixel entro 0,5 ore |
| Acquisizione d'immagine ad altissima velocità | 100MB/s, una singola immagine 24k x 24k richiede solo 6,5 secondi per essere catturata |
| Metodo di acquisizione | STEM Acquisizione di campo luminoso (BF) o campo scuro (DF) |
| Software di controllo del microscopio elettronico ad alto rendimento | Equipaggiato con ottimizzazione automatica dell'immagine, monitoraggio della messa a fuoco intelligente, navigazione ottica panoramica e funzioni di acquisizione completamente automatizzate di grandi aree |
| Cambiamento rapido tra grande campo e immagini ad alta risoluzione | Progettazione ottica elettronica innovativa, funzionamento indipendente di immagini di grande campo e immagini ad alta risoluzione, commutazione rapida, identificazione e posizionamento precisi di particelle,immagini ad alta risoluzione |
| Software di analisi delle immagini AI Server | Imaging a campo ultralargo, 100um@25nm, riconoscimento e misurazione ad alta efficienza del server AI |
| Capacità di rilevamento quantitativo di particelle ad alto rendimento | Nuovo sistema di caricamento dei campioni e sistema automatizzato di gestione dei campioni, che garantisce il rilevamento quantitativo |
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▶Sistema ottico progettato per il rilevamento completamente automatizzato di microparticelle
I microscopi elettronici tradizionali a trasmissione hanno un campo visivo ridotto, che non può soddisfare le esigenze di rilevamento e identificazione di un gran numero di nanoparticelle.7230 è progettato sulla base di concetti di apparecchiature per il rilevamento del fascio elettronico a semiconduttore di livello industriale, raggiungendo capacità di rilevamento di nanoparticelle ad elevato throughput.
A63.7230 ottiene immagini ad altissima velocità grazie a progetti innovativi come la tecnologia di imaging veloce, la fase di campionamento senza vibrazioni, il sistema ottico elettronico ad alta velocità e la tecnologia AI,con velocità di imaging che raggiungono decine di volte quelle dei microscopi elettronici tradizionali. |
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▶Progettazione completamente automatizzata Una serie di azioni come l'ispezione di accensione, il posizionamento della navigazione, il centraggio con un clic, l'aggiustamento della messa a fuoco e la correzione dello spostamento sono automatizzate.Il sistema di monitoraggio della messa a fuoco in tempo reale è composto da hardware e software. Utilizzando una precisa deflessione elettronica per ottenere un posizionamento accurato delle immagini di campione, con conseguente elevata ripetibilità dei risultati.Non solo elimina la necessità di un ampio sforzo per regolare e localizzare le posizioni dei campioni, ma utilizza anche l'intelligenza artificiale per il rilevamento automatico, in ultima analisi raggiungendo un funzionamento continuo senza controllo. |
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▶Funzioni software personalizzabili per diversi clienti Sfruttare l'intelligenza artificiale moderna, gli algoritmi di IA, ecc., per assistere il personale sperimentale nell'analisi,dalla preparazione del campione di fronte alla rappresentazione automatica della sezione intera e alla cucitura con il microscopio elettronico, generando mappe ad alta risoluzione e quindi all'elaborazione dei dati back-end.fornire agli utenti una soluzione completa. |
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