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OPTO-EDU A63.7004 Single-Crystal Filament Scanning Electron Microscope SE BSE 360000x 3nm@20KV

OPTO-EDU A63.7004 Microscopio elettronico a filamento a cristallo singolo SE BSE 360000x 3nm@20KV

  • Resolution
    3nm@20KV
  • Magnification
    360000x
  • Electron Gun
    LaB6
  • Voltage
    3-20KV
  • Detector
    BSE+SE
  • Navigation CCD
    CCD+Cabin Camera
  • Place of Origin
    China
  • Marca
    CNOEC, OPTO-EDU
  • Certificazione
    CE, Rohs
  • Model Number
    A63.7004
  • Documento
  • Minimum Order Quantity
    1 pc
  • Prezzo
    FOB $1~1000, Depend on Order Quantity
  • Packaging Details
    Carton Packing, For Export Transportation
  • Delivery Time
    5~20 Days
  • Payment Terms
    T/T, West Union, Paypal
  • Supply Ability
    5000 pcs/ Month

OPTO-EDU A63.7004 Microscopio elettronico a filamento a cristallo singolo SE BSE 360000x 3nm@20KV

  • Ingrandimento 360000x Risoluzione 3nm@20KV Con rilevatore SE+BSE+CCD, EDS opzionale
  • Scala di lavoro motorizzata standard X/Y, opzionale 3 assi X/Y/Z, 5 assi X/Y/Z/R/T
  • Cartuccia a filamento a cristallo singolo LaB6 tensione 20kV, durata > 1500 ore
  • Sistema ad alto vuoto con pompa meccanica rotante per ottenere il vuoto in 30s
  • Un tasto di messa a fuoco automatica, luminosità automatica e contrasto regolare, nessun bisogno di shock absorbing tabella
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OPTO-EDU A63.7004 Microscopio elettronico a filamento a cristallo singolo SE BSE 360000x 3nm@20KV 1

A63.7004 Microscopi elettronici di scansione (SEM), aggiornate il fucile dal tungsteno al LaB6,incorporano numerose tecnologie innovative, che offrono non solo prestazioni di imaging eccellenti, ma anche la portabilità, rispondendo a una vasta gamma di esigenze applicative.Sia a livello nazionale che internazionale, la serie ZEM, con il suo posizionamento di fascia alta e i diversi modelli, ha raggiunto standard avanzati in termini di chiarezza delle immagini, facilità d'uso e integrazione del sistema.

 

A63.7004L'interfaccia utente è semplice, facile da imparare e da utilizzare, permettendo anche agli utenti non esperti di acquisire rapidamente competenze..Il software di accompagnamento supporta l'intero flusso di lavoro, dalla preparazione del campione, all'adeguamento dei parametri, all'analisi delle immagini, fornendo una soluzione integrata ed efficiente.A63.7004ha dimostrato forti capacità analitiche in diversi settori quali i nuovi materiali, la nuova energia, la biomedicina e i semiconduttori,aiuta i ricercatori ad esplorare i misteri del mondo microscopicoA causa del suo ottimo rapporto costi/prestazioni, la serie ZEM è diventata una scelta preferita da molte università, istituti di ricerca,e le imprese che cercano un microscopio elettronico a scansione per desktop.

 

Il SEM da banco A63.7004 utilizza una gamma più ampia di tensioni di accelerazione, passaggi da 1Kv e un ingrandimento massimo di 360,000x con una risoluzione fino a 5 nm La modalità di decelerazione a tavola consente l'osservazione in tempo reale di prodotti a bassa conducibilità senza la necessità di spruzzare oroIl compartimento campionamento extra-grande può essere integrato con una vasta gamma di piattaforme di espansione in situ per soddisfare diverse esigenze sperimentali e di ispezione.

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Condizioni di lavoro:

Requisiti ambientali: dimensioni ridotte, l'intera macchina può essere posizionata su un tavolo di laboratorio ordinario, non è necessario dotarla di un tavolo di ammortizzazione aggiuntivo.

1.alimentazione 220V, 50Hz, 1KW

2.Temperatura: temperatura ambiente di funzionamento: 15°C-30°C

3.Umidità: < 80%RH

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OPTO-EDU A63.7004 Microscopio elettronico a filamento a cristallo singolo SE BSE 360000x 3nm@20KV 4

Specificità principale:

1Voltaggio di accelerazione: 3-20 kV, regolabile continuamente.

2. Tipo di pistola elettronica: filamento LaB6 a cristallo singolo pre-allineato, durata di vita di 1500 ore, obiettivo di pistola a due fasi altamente integrato, non è necessario regolare manualmente il diaframma dell'obiettivo.

3. ingrandimento ≥ 360000X".

4. Risoluzione:≤3nm@20KV

5Detettore: rilevatore elettronico secondario (SE), rilevatore quadruplo di retroscatter (BSE),

6- Staggio: 2 assi XY motorizzato, in movimento 60x55mm".

7. Dimensione massima del campione: 100*78*68,5 mm mentre gli assi XY si muovono liberamente

8. cambiamento di campione e tempo di pompaggio a vuoto elevato ≤ 90s.

9. sistema ad alto vuoto: pompa meccanica, pompa molecolare turbo, pompa ionica, vuoto nella camera campionaria ≥ 4x10-2Pa, controllo completamente automatico;

10. modalità video ≥ 512x512 pixel, non è necessario la scansione di finestre piccole.

11. modalità scansione rapida: tempo di imaging≤3s, 512x512 pixel.

12. modalità di scansione lenta: tempo di imaging≤40s, 2048x2048 pixel.

13File immagine: BMP, TIFF, JPEG, PNG.

14. regolazione automatica della luminosità e del contrasto con un tasto, messa a fuoco automatica, cucitura di immagini di grandi dimensioni

15Funzione di navigazione: navigazione con telecamera ottica e telecamera di bordo.

16Funzione di misurazione dell'immagine: distanza, angolo, ecc.

17Compresi computer e software, controllo del mouse.

18- Facoltativo:

-- Filamenti di tungsteno (20 pezzi/scatola)

--EDS

--3 Asse Motorizzato XYZ

--3 Asse Motorizzato XYT

--5 Asse Motorizzato XYZRT

-- basso vuoto (1-60 Pa)

- fase in loco dalla fabbrica originale, riscaldamento, raffreddamento, allungamento, ecc.

- Modalità di decelerazione, 1-10KV, può osservare campioni non conduttori o con scarsa conducibilità senza spruzzare oro, solo per la modalità BSE

-- Piattaforma di assorbimento degli urti (consigliata per A63.7004)

19. dimensione del microscopio 650*370*642mm, dimensione della pompa meccanica 340*160*140mm

 
 
OPTO-EDU A63.7004 Microscopio elettronico a filamento a cristallo singolo SE BSE 360000x 3nm@20KV 5
Modello A63.7001 A63.7002 A63.7003 A63.7004 A63.7005
Risoluzione 10nm@15KV 6nm@18KV 4nm@20KV 3nm@20KV 2.5nm@15KV
Ingrandimento 150000x 200000x 360000x 360000x 1000000x
Pistola elettronica Carburante Carburante Carburante LaB6 FEG di Schotty
Voltaggio 5/10/15KV 3-18KV 3-20KV 3-20KV 1-15KV
Detettore BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE BSE+SE
CCD di navigazione CCD CCD CCD+camera di bordo CCD+camera di bordo CCD+camera di bordo
Tempo di vuoto Anni '90 Anni '90 Trent'anni Anni '90 180 anni
Sistema a vuoto Pompa meccanica
Pompa molecolare
Pompa meccanica
Pompa molecolare
Pompa meccanica
Pompa molecolare
Pompa meccanica
Pompa molecolare
Pompa ionica
Pompa meccanica
Pompa molecolare
Pompa agli ioni x2
Vaccum Alto vuoto
1x10-1Pa
Alto vuoto
1x10-1Pa
Alto vuoto
1x10-1Pa
Alto vuoto
5x10-4Pa
Alto vuoto
5x10-4Pa
Fase Fase XY,
40x30/40x40 mm
Fase XY,
40x30/40x40 mm
Fase XY,
60x55 mm
Fase XY,
60x55 mm
Fase XY,
60x55 mm
Precisione del palco - Posizione esatta 5um
Distanza di lavoro 5-35 mm 5-35 mm 5-73,4 mm 5-73,4 mm 5-73,4 mm
Esemplare massimo 80x42x40 mm 80x42x40 mm 100 x 78 x 68,5 mm 100 x 78 x 68,5 mm 100 x 78 x 68,5 mm
Opzionale Filamenti di tungsteno 20 pezzi/scatola Laboratorio 6 Filamento Lampada di emissione di campo
EDS Oxford AZtecOne con XploreCompact 30
- Basso vuoto 1-100 Pa Basso vuoto 1-30 Pa
- Modulo dell'asse Z 3 assi di fase, X 60 mm, Y 50 mm, Z 25 mm
- Modulo dell'asse T 3 Assi di fase, X 60 mm, Y 50 mm, T ± 20°
- - 5 Assi di fase, X 90 mm, Y 50 mm, Z 25 mm, T ± 20°, R 360°
- - Piattaforma di assorbimento degli urti, per 3 assi, 5 fasi di asse
- Modalità di rallentamento 1-10KV per la sorveglianza di campioni non conduttori, solo per la BSE
- Fase in loco dalla fabbrica originale, riscaldamento, raffreddamento, allungamento, ecc.
UPS
 
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OPTO-EDU A63.7004 Microscopio elettronico a filamento a cristallo singolo SE BSE 360000x 3nm@20KV 11
 
OPTO-EDU A63.7004 Microscopio elettronico a filamento a cristallo singolo SE BSE 360000x 3nm@20KV 12
 
OPTO-EDU A63.7004 Microscopio elettronico a filamento a cristallo singolo SE BSE 360000x 3nm@20KV 13
 
OPTO-EDU A63.7004 Microscopio elettronico a filamento a cristallo singolo SE BSE 360000x 3nm@20KV 14

AZtecOne con XploreCompact 30 per TTM

 

Analisi del sistema di istruzione convenzionale

Il sistema fornisce analisi qualitative e quantitative di diversi materiali, analizzando elementi che vanno da B ((5) a cf (98).Sono disponibili anche potenti scansioni lineari e scansioni spettrali elementari. combinato con un rilevatore personalizzato, l'analisi e la segnalazione possono essere effettuate in pochi secondi.

 
Area cristallina efficace 30 mm2 Risoluzione (di una foto) Mn Ka < 129eV @50,000cps
Distanza di rilevamento elementare B (5) a cf (98) Tasso massimo di conteggio degli input >1,000,000 cps
 
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