OPTO-EDU A63.7235 Microscopio Elettronico a Scansione a Emissione di Campo ad Alta Produttività 12KV 600000x
-
Evidenziare
Microscopio Elettronico a Scansione a Emissione di Campo 12KV
,Microscopio a Scansione ad Alta Produttività 600000x
,SEM OPTO-EDU con alto ingrandimento
-
Cannone elettronicoSCHOTTKY TERMICA Emissione del campo Terma Elimina Elettrone Corrente Stabilità <1%/giorno
-
Sistema obiettivo obiettivoSorril ™ Modalità di decelerazione della fase del campione di lenti composti elettromagnetici
-
Distanza di lavoro standard1,5 mm
-
Campo visivo massimo100um (distanza di lavoro standard) 1 mm (distanza di lavoro massima)
-
Detector di elettroni (standard)Rilevatore di SE in colonna in obiettivo BSE Rilevatore
-
Rilevamento dell'altezza WDFocus Tracking ™ Sistema di tracciamento focus automatico
-
Luogo di origineCina
-
MarcaCNOEC, OPTO-EDU
-
CertificazioneCE, Rohs
-
Numero di modelloA63.7230
-
Documento
-
Quantità di ordine minimo1 PC
-
PrezzoFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
-
Imballaggi particolariImballaggio del cartone, per il trasporto dell'esportazione
-
Tempi di consegnaDa 5 a 20 giorni
-
Termini di pagamentoT/T, West Union, PayPal
-
Capacità di alimentazioneun mese di 5000 pc
OPTO-EDU A63.7235 Microscopio Elettronico a Scansione a Emissione di Campo ad Alta Produttività 12KV 600000x
OPTO-EDU A63.7235 Microscopio elettronico di scansione delle emissioni di campo ad alto throughput 12KV 600000x
Caratteristiche chiave
- Risoluzione 1.5nm@1Kv, acquisizione automatica di cucitura immagine grande fino a cm2
- Imaging sincrono a doppio canale di SE e BSE 100M pixel/s ciascuno
- Velocità di ripresa completa > 10 volte quella dei microscopi elettronici tradizionali
- Generazione rapida di rapporti di analisi dei dati da immagini SEM massicce
- Caratterizzazione dei materiali a scala trasversale da millimetri a nanometri
Il microscopio elettronico di scansione delle emissioni di campo ad alto throughput A63.7235 è progettato per la caratterizzazione e l'analisi SEM su larga scala di campioni su larga scala, ampiamente utilizzati nella ricerca e nell'industria.La sua tecnologia automatizzata di nanoimaging ad altissima velocità offre un'esperienza straordinaria di imaging..
Capacità di base:
- Risoluzione 1.5nm@1Kv, acquisizione automatica di cucitura immagine grande fino a cm2
- Imaging sincrono a doppio canale di SE e BSE 100M pixel/s ciascuno
- Velocità di ripresa completa > 10 volte quella dei microscopi elettronici tradizionali
- Generazione rapida di rapporti di analisi dei dati da immagini SEM massicce
- Caratterizzazione dei materiali a scala trasversale da millimetri a nanometri
Il microscopio elettronico di scansione delle emissioni di campo ad alto throughput A63.7235, sviluppato indipendentemente da Opto-Edu,raggiunge un'immagine ad alta trasmissione attraverso una progettazione innovativa sistematica nella tecnologia di imaging, piattaforma di movimento, controllo del circuito e algoritmi intelligenti, con velocità di imaging superiori a decine di volte ai tradizionali microscopi elettronici.Superare i limiti della tecnologia SEM tradizionale in termini di velocità, precisione e danni ai campioni.
Specifiche tecniche
| Lenti ottiche elettroniche | |
|---|---|
| Pistola elettronica | Emissione di campo termico di tipo Schottky Fascio di sorgente elettronica Stabilità della corrente < 1%/giorno |
| Sistema di lente obiettiva | SORRILTM Lenti composte elettromagnetiche Modalità di decelerazione dello stadio di campionamento |
| Risoluzione | 1.5 nm @ 1kV 1.3nm @ 3kV |
| Lenti elettromagnetiche per immersione (*1) | |
| Tensione di accelerazione | 0.1-12 kV regolabile in continuo (*2) |
| Ingrandimento | 500X~600,000X (immagine SEM) 1X-600X (navigazione ottica) |
| Corrente del raggio | 50pA~30nA (*3) |
| Distanza di lavoro standard | 1.5 mm |
| Campo visivo massimo | 100 mm (distanza di lavoro standard) 1 mm (distanza di lavoro massima) |
| Sgomberatore di fascio elettronico | Scaffalatore elettrostatico |
Caratteristiche avanzate
▶ Imaging ultra veloce
- Realizzazione di immagini sincrone a doppio canale di elettroni secondari ed elettroni retro-dispersi mediante progettazione hardware e software sviluppata in modo indipendente: immagini ad alta risoluzione a livello video
- La velocità di fotogramma a livello video ad alta definizione consente l'osservazione in tempo reale dei cambiamenti dinamici del campione
▶ Alta qualità delle immagini
- Il sistema di lenti composte elettromagnetiche a immersione unica riduce efficacemente le aberrazioni ottiche
- Il sistema di deflessione della scansione elettrostatica riduce la distorsione del bordo dell'immagine
- I rivelatori di elettroni diretti a semiconduttore in-Lens SE e BSE consentono l'imaging simultaneo ad alta velocità a doppio canale
- Il sistema di compensazione attiva elimina le interferenze ambientali
▶ Imaging su larga scala a scala trasversale
- Capacità di scansione ad altissima velocità con sistema di tracciamento di messa a fuoco completamente automatico
- Gli algoritmi di elaborazione delle immagini A.I. consentono una scansione di matrice ininterrotta completamente automatica ad alta risoluzione
- Coiutura automatica per ottenere immagini panoramiche a grande risoluzione a livello nanometrico
▶ Analisi intelligente
- Analisi intelligente dei big data, generazione rapida di rapporti di analisi dei dati
- Intelligente elaborazione delle immagini, misurazione personalizzata delle immagini, statistiche e analisi
▶ Semplice funzionamento
- Caricamento e navigazione dei campioni completamente automatici, sostituzione dei campioni con un solo clic
- La navigazione di imaging ottica a campo grande si collega perfettamente con l'imaging SEM
- Capacità di funzionamento senza equipaggio completamente automatizzato 24 ore su 24 e 7 giorni su 7.
Esempi di applicazione
Osservare la microstruttura delle cellule nel cervello, nel cuore, nel fegato e nei reni del topo sotto microscopia elettronica di scansione, utilizzando Arrays Scan per eseguire una scansione completamente automatica sui campioni della zona bersaglio.
Il campione viene preparato utilizzando un metodo di taglio continuo, raccogliendo fino a centinaia di fette, posizionandole su un cerchio di campione e caricandole nello SEM in una sola volta.
Analisi patologica: raccogliere tutte le informazioni dettagliate sull'intera fetta e ingrandire qualsiasi area per osservare chiaramente l'ultrastruttura degli organelli subcellulari sul tessuto renale.
Altre note
* Nota:
①: Lenti elettromagnetiche non immersive opzionali per l'osservazione di materiali ferromagnetici
②: opzionale pistola elettronica da 0 a 30 kV
③: facoltativo 100nA
④: opzionale interferometro laser
①: Lenti elettromagnetiche non immersive opzionali per l'osservazione di materiali ferromagnetici
②: opzionale pistola elettronica da 0 a 30 kV
③: facoltativo 100nA
④: opzionale interferometro laser
prodotti correlati
I nostri prodotti sono venduti in tutto il mondo. Puoi stare certo dell'intero processo dei nostri prodotti.